Обзор решений для выявления дефектов AOI, SPI, X-ray
В современном производстве электроники качество является ключевым фактором, и высокотехнологичные системы контроля играют важную роль в обеспечении надежности электронных сборок. Мы представляем вам три передовых решения для автоматической инспекции, которые обеспечивают высокую точность и эффективность в выявлении дефектов.
- Система контроля нанесения паяльной пасты, или S P I.
- Автоматические оптические инспекции, или AOI.
- Рентгеновские установки неразрушающего контроля, или A X I.
Эти передовые технологии представляют собой надежные решения для обнаружения дефектов и обеспечения высокого качества производимых электронных изделий. Интеграция таких систем в производственные процессы позволяет значительно повысить эффективность и надежность конечного продукта.
